铁素体含量测量仪

FERITSCOPE® FMP30

特点

• 在现场或实验室中快速、无损地测量铁素体含量
• 测量范围： 0.1 - 80% Fe 或 0.1 - 110 FN
• 可以以铁素体百分比“%Fe”或是以铁素体数“FN”作为测量单位
• 根据 ISO 17655国际标准或“巴塞尔标准”进行测量
• 校准用标准片可溯源到 TWI 二级标准，符合标准ISO 8249 以及 AWS A4.2M 的要求。
• 可以使用客户自有的标准进行校准.

典型应用领域

测量以下材料内的铁素体含量：

• 双相钢
• 奥氏体焊缝（钢管或钢片上）
• 有奥氏体铬合金钢焊覆层的普通钢（锅炉、容器）

其他信息：

• 铁素体仪简介

手持式仪器，用于测量奥氏体钢和双相钢内的铁素体含量

德国菲希尔FISCHER FMP30高精度涂层测厚仪简介：

德国菲希尔FISCHER FMP30高精度涂层测厚仪，DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪采用了磁性测厚法，DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪是一种超小型测量仪，DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪：

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪采用了磁性测厚法，DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪是一种超小型测量仪，DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。
DELTASCOPE FMP30菲希尔涂层测厚仪配备有一个的和便于读取的 60 x 30 mm (2.4" x 1.2"))液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号，2行文本各16个字母或可自由选择的符号用于显示数据和操作员提示

DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪采用根据DIN EN ISO 2178, ASTM B499标准的电磁感应方法，适用于测量：

• 非铁金属镀层（例如：铬，铜，锌等）在钢和铁上
• 油漆，腊克和合成涂层在钢和铁上

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪：

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪它能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪特别适用于工程现场高精度的测量；

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪配合涡流探头：

FTA3.3H，测量范围：0 - 1200 μm

FGAB1.3，订货号：604-141，测量范围：0 - 2000 μm

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中，因此仪器一旦连接了任何探头都能立即进行测量。
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪有一个的和便于读取的60 x 30 mm (2.4" x 1.2")液晶显示器。大量显示的信息使得操作异常简便，包括单个测量读数，测量次数，以及显示操作模式和设置的图标和符号， 2行文本各16个字母或可自由选择的符号以用于显示数据和操作员提示。
ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪采用根据DIN EN ISO 2360, ASTM B244标准的电涡流方法，适用于测量：

• 非导电涂层在非铁金属基材上，例如：油漆、腊克和合成涂层在铝、铜、黄铜、锌和不锈钢上
• 铝的阳极氧化层（非铁基材）

ISOSCOPE FMP30氧化膜测厚仪常用涡流探头：FTA3.3H，订货号：604-142，测量范围：0 - 1200 μm，测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%

DELTASCOPE FMP30涂层测厚仪常用磁性探头：FGAB1.3，订货号：604-141，测量范围：0 - 2000 μm（45 mils）。测量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%