梅特勒XSE 分析天平

在超越系列XP/XS分析天平分析天平市场10年之际,梅特勒-托利多于2014年推出新超越系列XPE/XSE新一代分析天平,将称量智能化推向了*的高度!

梅特勒XSE 分析天平将精确称量与众多智能特性相结合，让您的日常称量任务变得准确无误。您不仅可以体验到新超越系列分析天平提供的称量性能，更可以确保全面的法规*性，以及至高的过程安全性。

仪器无忧——我明白称量很安全！

全新智能安全工具可监控天平的状态，以确保安全地开始称量任务。创新的状态指示灯(StatusLight)让您只需看一眼即可了解称量是否开启绿灯：执行了的天平校准和日常测试，天平处于水平状态且性能正常。

样品无忧——再也不受静电问题困扰！

静电是分析称量过程面临的主要挑战。正常操作时，容器和样品很容易吸附静电荷，从而导致称量误差。电荷也可使粉末状颗粒飘散，这在处理昂贵或有毒物质时容易造成额外的问题。新超越系列天平的智能静电检测和去静电解决方案可避免称量误差，并使样品处理更加简单安全。

过程无忧——减少错误的又一里程碑！

梅特勒-托利多的LabX软件可显著提升实验室的影响力，是保证过程安全性和管理称量不确定性的*解决方案。LabX在提供基于天平触摸屏的灵活的SOP用户向导方面。自动数据处理、计算和生成报告意味着再也不需要通过手工记录，避免了抄录误差并确保了可追溯性。新超越系列天平轻松地满足至高过程安全要求，并帮助您建立无纸化实验室。

状态指示灯

状态指示灯清晰地显示天平是否已准备好开始称量任务。绿色表示天平准备运行，黄色表示天平通过TestManager连接至日常测试，红色表示对天平失去平衡等错误立即采取纠正措施。

使用天平触摸屏，可在Test-Manager嵌入式软件中进行SOP测试。无论何时进行测试，都会在屏幕上显示消息，您只需遵循随附的测试说明即可。

称量结果

除了称量舒适度外，获得的测量技术还在发挥着幕后作用，为您提供zui高的分辨率、zui为快速和zui可靠的结果以及zui低的zui小称量值（仅14mg）！

梅特勒XSE 分析天平采用的设计，将称重传感器和电子元件安装在天平的背部。 您可获得的利益：不受散热影响且易于清洁，因此可获得更好的称量性能。 获得的设计具备以下关键特征：

• SmartGrid技术能够以zui快速、清洁的方式完成称量任务

• 内部温度控制(ITC)装置无需单独或外部电子元件即可确保获得zui小称量值。

• proFACT 高级版本确保准确性和温度稳定性并符合内部测试规定

良好的称量规范

新型XSE和XPE分析天平依照GWP研发而成。 梅特勒-托利多开发出GWP(Good Weighing Practice)，作为安全选择、校准和操作称重设备的标准化科学方法。GWP提供的可再现性称重结果书面凭证符合当前所有实验室和制造业的质量标准。 关注稳定的过程、*的产品质量、精益制造或遵守法规的用户可使用GWP作为选择和校准其称重设备的基准。

清洁、安全

• SmartGrid网格称盘：所有溢出的样品都可通过秤盘落下，而不会影响您的称量结果，下方的滴盘可轻松地捕获溢漏的任何固体和液体，以便安全处理。

• 防风罩：zui大限度降低样品污染风险：防风罩和滴盘无需工具即可在数秒钟内拆卸。

• 可在洗碗机中安全清洗：所有部件均可在洗碗机中方便、地清洁。

技术参数