单点测量的非接触式薄层电阻和图层厚度测量设备

单点测量的非接触式薄层电阻和图层厚度测量设备 EddyCus® TF lab 2020 系列

产品简介

EddyCus® TF lab 2020 系列允许在非接触模式下对导电薄膜进行手动单点测量和薄金属层的层厚测量。 紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的样品。 除了测量薄的导电层外，还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。

产品优势

非接触式实时测量
精确测量导电薄膜
隐藏和封装导电层的表征
测量数据保存和导出功能


设计要点

薄层电阻
金属层的厚度测量
单点测量
质量控制，输入和输出控制
样品尺寸：10 x 10 mm² 至 200 x 200 mm²（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）
测量范围：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

应用域

镀膜建筑玻璃，例如 LOWE
显示器、触摸屏和平板显示器
OLED和LED应用
智能玻璃
石墨烯层
光伏晶片和电池
半导体晶圆
金属化层和晶圆金属化
除冰和加热应用
电池电
导电涂层纸和导电纺织品

产品选型




产品相册