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产品详情
Sphere-3000光学元件反射率测量仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率,适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量,还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
仪器特点:
技术参数:
Sphere-3000(II型) | Sphere-3000(III型) | Sphere-3000-NIR | |
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探测器 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) | Hamamatsu InGaAs探测器(制冷) |
检测范围 | 380~1100nm | 380~1100nm | 900~1700nm |
波长分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
信噪比 | 450:1 | 1000:1 | 10000:1 |
相对检测误差 | <0.75% | <0.5% | <0.5% |
被测物再现性 | ±0.1%以下(380nm~410nm) ±0.05%以下(410nm~900nm) | ±0.1%以下(380nm~400nm) ±0.05%以下(400nm~900nm) | ±0.1%以下 (1000~1650nm) |
测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
单次测量时间 | <1s | ||
精度 | 0.3nm | ||
被测物N.A | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | ||
被测物尺寸 | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时) | ||
被测物测定范围 | 约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时) 约φ30um(使用50×对物镜时) | ||
设备重量 | 约22kg(光源外置) | ||
设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
使用环境 | 水平且无振动的场所;温度:23±5℃;湿度:60%以下、无结露; | ||
操作系统 | Windows7~Windows10 | ||
软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定 |