《荧光相对强度和荧光量子效率测量装置校准规范》征求意见

　　根据国家市场监督管理总局计量司国家计量技术规范制修订计划安排，全国新材料与纳米计量技术委员会已完成了《荧光相对强度和荧光量子效率测量装置校准规范》国家计量技术规范的征求意见稿。为了使国家计量技术规范能广泛适用和更具可操作性，特向全国有关单位征求意见。
 

　　荧光材料在照明、显示、传感器和荧光标记等领域具有广泛应用。荧光光谱广泛用于荧光材料的定性和定量分析。荧光量子效率是荧光材料发射的光子数与吸收的光子数之比，是评价荧光材料发光性能非常关键的参数之一。
 

　　目前关于荧光光谱仪和荧光量子效率测量装置的技术规范和标准有：JJG 537-2006 《荧光分光光度计》和GB/T 37664.1-2019 《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第1部分：量子效率》，但是计量特性不全面，特别是荧光相对强度的校准方面操作性比较差，影响荧光光谱和荧光量子效率的准确测量。
 

　　本校准规范的制定将为光电显示、荧光标记等领域提供技术支撑，为荧光光谱和荧光量子效率的准确测量提供技术保障，为在全国范围内建立量传溯源体系提供依据。
 

　　JJF 1071《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001《通用计量术语及定义》、JJF 1059.1《测量不确定度评定与表示》和JJF 1094《测量仪器特性评定》共同构成支撑本规范制定工作的基础性系列规范。
 

　　本规范参考了JJG 537-2006 《荧光分光光度计》、GB/T 37664.1-2019 《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第1部分：量子效率》的相关内容，适用于荧光相对强度和荧光量子效率测量装置的校准。
 

　　依据JJF 1071《国家计量校准规范编写规则》，本规范在架构上包括：范围；引用文件；概述；计量特性；校准条件；校准项目和校准方法；校准结果表达；复校时间间隔以及附录等内容。
 

　　关于范围：
 

　　本规范适用于荧光光谱仪和荧光量子效率测量装置的校准。
 

　　关于计量特性：
 

　　计量特性包括：发射侧波长重复性、激发侧波长重复性、荧光相对强度校准曲线、荧光相对强度重复性、荧光量子效率测量重复性。
 

　　关于校准条件：
 

　　包括校准环境条件、校准用标准器和其他设备。
 

　　关于校准方法：
 

　　校准前准备需要将标准器进行预热。首先采用标准汞氩灯对发射侧单色器波长进行校准，再采用校准后的发射单元采集氙灯特征峰对激发侧单色器波长进行校准。发射侧波长重复性和激发侧波长重复性通过标准偏差进行计算。
 

　　采用溯源到国家光谱辐射照度基准、相对光谱辐射照度已知的相对光谱辐射照度标准器(氘灯、带积分球的卤钨灯)进行荧光相对强度校准，获得荧光相对强度校准曲线。荧光相对强度重复性通过相对标准偏差进行计算。
 

　　荧光量子效率测量重复性通过相对标准偏差进行计算。
 

　　关于附录的设置：
 

　　附录包括三项：附录A 校准结果的不确定度评定示例；附录B 校准记录格式；附录C 校准证书(内页)格式。
 

　　原标题：《荧光相对强度和荧光量子效率测量装置校准规范》征求意见